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簡要描述:原位拉伸臺,包括低溫原位拉伸臺,高溫原位拉伸臺,是一種研究材料在不同溫度環(huán)境中對樣品進(jìn)行加載測試進(jìn)行力學(xué)性能測試儀器,可與電子掃面顯微鏡、DIC、能譜、光譜、光學(xué)顯微鏡配合使用研究材料微觀形變、裂紋擴(kuò)展、斷裂形貌和溫度等數(shù)據(jù)。文天精策生產(chǎn)的冷熱原位拉伸臺,采用模塊化設(shè)計(jì),可在掃描電鏡真空環(huán)境下實(shí)現(xiàn)控溫精度高、升降溫速度快、溫度范圍寬(-190~600℃)、多接口輸出,支持定制。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 文天精策 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,紡織皮革 |
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拉力范圍 | 0-5000N | 變溫范圍 | -190~600℃ |
位移范圍 | 0-90mm | 溫控精度 | ±0.1℃ |
位移速度 | 1-500μm/s |
冷熱原位微型拉伸臺,冷熱原位拉伸顯微應(yīng)變測試系統(tǒng)
提供高精度溫度環(huán)境、力學(xué)控制,為您的材料微觀應(yīng)力應(yīng)變測試提供定制化的解決方案
原位拉伸微觀測試系統(tǒng)成功將溫度控制下的材料應(yīng)力應(yīng)變測試過程與 DIC 顯微測試系統(tǒng)相結(jié)合,作用力方式可以恒速或恒力,溫度控制可以設(shè)定恒溫或程序升降溫。可以實(shí)現(xiàn)-190~600℃溫度下材料的動態(tài)應(yīng)力應(yīng)變特性,而且可以定量分析材料在測試過程中相變行為、裂紋萌生和擴(kuò)展、斷裂、彎曲、高溫蠕變等過程??蛇x最大拉力載荷500N、2000N、5000N,可選配電極探針。
冷熱原位拉伸臺廣泛應(yīng)用于金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、高分子材料、生物、柔性電子材料、薄膜材料等研究領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)動態(tài)應(yīng)變測量、高速變形測量、斷裂力學(xué)及動態(tài)材料試驗(yàn)。
微型拉伸臺功能選型
產(chǎn)品型號 | WT-500 | WT-2000 | WT-5000 | |||
應(yīng)用領(lǐng)域 | 金屬/陶瓷/高分子材料/生物/柔性材料/薄膜材料等材料科學(xué)研究領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)動態(tài)應(yīng)變測量、高速變形測量、斷裂力學(xué)、及動態(tài)材料試驗(yàn)中測量材料特性測試。 | |||||
力學(xué)模塊 | 拉力量程 | 0-500N,0.02% FS, | 0-2000N,0.02% FS, | 0-5000N,0.02% FS, | ||
作用方向 | 水平運(yùn)動 | |||||
最大位移 | 46mm | 50mm | 50mm | |||
位移速度 | 1-500μm/s ,可選 | |||||
力學(xué)模式 | 拉伸、壓縮、彎曲、 | |||||
溫控模塊 | 冷熱方式 | 液氮致冷,電熱絲加熱 | ||||
溫控上限 | A.100℃ B. 200℃ C. 400℃ D.600℃ (可選) | |||||
溫控下限 | A.-100℃ B .-120℃ C .-150℃ D.-190℃(可選) | |||||
溫控精度 | ±0.1℃,分辨率0.1℃ | |||||
控溫速度 | 0~10℃/min | |||||
溫控類型 | 溫控方式:PID;溫度傳感器:PT100;載樣臺材質(zhì):銀質(zhì) | |||||
光學(xué)特性 | 光路 | 反射光路(可升級為透射光路) | ||||
視窗材質(zhì) | 光學(xué)玻璃 可升級藍(lán)寶石 | |||||
上蓋視窗 | φ25mm(可定制) | |||||
透光孔 | 默認(rèn)無,可增設(shè)透光孔 | |||||
最小物鏡距離 | 12mm | |||||
視窗除霜 | 負(fù)溫下吹氣除霜 | |||||
觀測模塊 | 觀測選型 | 顯微鏡、DIC圖像分析測試 | ||||
DIC軟件 分析功能 | 支持力、溫度同步分析,實(shí)現(xiàn)樣品微觀形貌、應(yīng)變分析、動態(tài)應(yīng)變計(jì)算、強(qiáng)度評估、非線性變化檢測、楊氏模量、泊松比、彈塑性、斷裂力學(xué)性能、均勻和非均勻材料變形過程中的行為分析、各種各向同性和各向異性材料變形特性 | |||||
DIC測試精度 | 支持低速到高速相機(jī),可實(shí)現(xiàn)精度微米級、納米級(可選) | |||||
實(shí)時計(jì)算 | 具備在線和離線兩種計(jì)算處理模式 | |||||
DIC系統(tǒng)兼容性 | 兼容單相機(jī)二維測量和多相機(jī)三維測量;兼容32位、64位系統(tǒng)。 | |||||
結(jié)構(gòu)特性 | 樣品臺尺寸 | 35×12mm,可定制 | ||||
樣品腔高度 | 9.0mm,可定制 | |||||
氣氛控制 | 氣密腔室,可充保護(hù)氣氛 | |||||
外殼冷卻 | 默認(rèn)無,可選通循環(huán)水,防止外殼過熱 | |||||
安裝固定 | 水平安裝 | |||||
基本配置 | 主機(jī)冷熱原位拉伸臺x1 力學(xué)測試控制器x1 高低溫控制器 x1 液氮罐 x1 低溫冷卻循環(huán)機(jī) x1 力學(xué)測試軟件x1 溫控軟件 x1 | |||||
選配 | 電腦主機(jī)/安裝支架/測試源表/同軸BNC/真空系統(tǒng)/濕度控制系統(tǒng)/定制控制軟件/ DIC-Micro顯微應(yīng)變測量分析系統(tǒng)/電學(xué)測試模塊(探針) |
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